1. Se consideră circuitul din figura 2.1
Să se calculeze un set complet de teste pentru defectul G1 b-l-1. Utilizaţi pentru calculul testului atât un algoritm deterministic cât şi diferenţa Boole-ană. Comparaţi rezultatele obţinute. Determinaţi toate celelalte defecte detectate prin testul calculat stabilind şi relaţia (funcţional echivalente sau dominante) dintre acestea şi defectul considerat.
a) rezolvare prin diferenta booleana
z=[ab+(c+d)’e]f’
z=(ab+c’d’e)f’
notez ab cu h
z=hf’+c’d’ef’
Setul complet de teste pentru defectul G1 b-l-1 este dat de expresia:
Se prelucreaza expresia si se obtine:
Td={0x1xx0, x01xx0, 0xx1x0, 0xxx00, x0xx00}
b) rezolvare folosind algoritmul D
Notez iesirea portii G1 cu D’(0/1). Se propaga D’ la iesire prin G4 si G3.
Pentru a propaga D’ prin G4 cealalta intrare trebuie sa fie 0 ceea ce implica: intrarea e a lui G2 este 0 sau iesirea portii G5 este 0(pentru asta trebuie ca c=1, d=1).
Pentru a propaga D’(iesirea de la G4) prin G3 trebuie ca f=0.
D’ se obtine atunci cand a=0 sau b=0;
Setul de teste este Td={ 0xxx00, 0x11x0, x0xx00, x011x0 }
Se observa ca vectorii de test obtinuti la punctual a se regasesc in cei de la punctual b.
3. Pentru circuitul din figura 2.3 se consideră un defect d care se caracterizează prin modificarea funcţiei porţii G6 astfel încât aceasta generează o valoare 1 la ieşire dacă şi numai dacă ambele sale linii de intrare au fie valoarea 0, fie valoare i. Să se găsească testele care detectează acest defect.
rezolvare:
Se testeaza poarta G6 pentru urmatoarele intrari: 00, 01, 10.
a) pentru 00
Tema 2 la Testarea Sistemelor de Calcul, anul IV, Calculatoare, UPB
Documentul este oferit gratuit,
trebuie doar să te autentifici in contul tău.
