Studiu de fiabilitate asupra sistemelor electronice

Previzualizare licența:

Cuprins licența:

1 INTRODUCERE
1.1 CATEVA NOTIUNI DE BAZA
1.1.1 FIABILITATEA
1.1.2 DEFECTARE
1.1.3 RATA DE DEFECTARE
1.1.4 TIPURI DE REPARTITII (DISTRIBUTII) UTILIZATE FRECVENT IN TESTELE DE CALITATE SI ANALIZELE FIABILITATE
1.1.4.1 DISTRIBUTIA EXPONENTIALA
1.1.4.2 DISTRIBUTIA WEIBULL
1.1.4.3 DISTRIBUTIA X2 (K. PEARSON)
1.1.4.4 DISTRIBUTIA NORMALA
1.1.4.5 DISTRIBUTIA BINOMIALA
1.1.4.6 DISTRIBUTIA STUDENT-T
1.1.5 SIGURANTA IN FUNCTIONARE SI FIABILITATE [0.5]
1.1.6 FIABILITATEA SI CONCEPTIA UNUI NOU PRODUS
1.1.7 FIABILITATE SI REDUNDANTA
1.1.7.1 REMARCI PRELIMINARE
1.1.7.2 CRITERII DE CLASIFICARE A REDUNDANTEI
1.1.7.3 REDUNDANTA ACTIVA SI MTBF
1.1.7.4 LA CE NIVEL TREBUIE INTRODUSA REDUNDANTA?
1.1.7.5 TREBUIE SA SE PREFERE REDUNDANTA SAU COMPONENTE CU FIABILITATE AMELIORATA
1.1.7.6 REDUNDANTA MAJORITARA
1.1.7.7 REDUNDANTA OPTIMA
1.2 PREVIZIUNI DE FIABILITATE
1.2.1 EVALUAREA POSIBILITATILOR
1.2.2 PREVIZIUNI DE MENTENANTA
1.3 ETAPE IN PREVIZIUNILE DE FIABILITATE
1.3.1 PREVIZIUNILE INITIALE
1.3.2 PREVIZIUNI INTERMEDIARE
1.3.3 PREVIZIUNILE FINALE
1.3.4 CARACTERISTICI DE DEFECTARE
1.3.5 METODE SI PROCEDEE DE PREVIZIUNE
1.3.6 STABILIREA SCHEMEI-BLOC DE FIABILITATE (GENERALITATI)
1.3.7 DETERMINAREA RATELOR DE DEFECTARE
1.4 DISPONIBILITATE
1.4.1 NOTIUNEA DE "FUNCTIONARE DEGRADATA"
1.4.2 IMPLICATIILE DISPONIBILITATII
1.4.3 COSTUL MENTENANTEI CORECTIVE
1.4.4 ALOCAREA DISPONIBILITATII
1.4.5 ELABORAREA DIAGRAMEI DE DISPONIBILITATE
1.4.6 REZOLVAREA DIAGRAMEI DE DISPONIBILITATE
2 FIABILITATEA SISTEMELOR
2.1 NEFIABILITATEA MISIUNII
2.2 PROPRIETATILE DISTRIBUTIEI BERNOULLI
2.3 GENERALITATI ASUPRA FIABILITATII UNUI SISTEM
2.4 FIABILITATEA A N COMPONENTE IN SERIE
2.5 FIABILITATEA UNUI SISTEM COMPUS DIN N ELEMENTE IN PARALEL
2.6 CAZUL FIABILITATII EXPONENTIALE
2.7 FIABILITATEA UNUI SISTEM SERIE PARALEL
2.8 PREVIZIUNI VALABILE
2.9 ANALIZA FIABILITATII SISTEMELOR
2.9.1 PROBABILITATEA DE DEFECTARE; RATA DE DEFECTARE
2.9.2 FUNCTIA DE FIABILITATE A UNUI SISTEM
2.9.3 REDUNDANTA ACTIVA
2.9.4 REDUNDANTA OPTIMA
2.9.4.1 ECUATIILE GENERALE ALE PROBABILITATILOR DE STARI
2.9.4.2 PROBABILITATEA DE DEFECTARE
2.9.4.3 PROBABILITATEA DE REPUNERE IN FUNCTIUNE
3 MENTENABILITATEA SISTEMELOR ELECTRONICE
3.1 CRESTEREA INTERESULUI ACORDAT MENTENABILITATII
3.2 DEFINITII MDL-STD
3.3 MTTR
3.4 ECUATIA DE PROBABILITATE
3.5 FIABILITATE SI MENTENABILITATE
3.6 MENTENABILITATEA SI LOGISTICA SISTEMELOR
3.6.1 TIPURI DE MENTENANTA
3.6.2 PROGRAMUL DE MENTENABILITATE
3.6.3 MANAGEMENTUL FIABILITATII SI MENTENABILITATII (MFM)
3.6.4 CONCEPTUL DE COST AL CICLULUI DE VIATA ("LIFE CYCLE COST - LCC")
4 ANALIZE DE FIABILITATE IN FAZA DE DEZVOLTARE
4.1 PATII NECESARI PENTRU CALCULUL FIABILITATII PREZISE
4.2 DEFINIREA FUNCTIEI SI A PROFILULUI CERUTE
4.2.1 MODELUL ARRHENIUS
4.3 ANALIZA DE FIABILITATE CU AJUTORUL DIAGRAMEI-BLOC
4.4 METODA FACTORULUI DE COMPARATIE
5 ANALIZE DE MENTENABILITATE IN FAZA DE DEZVOLTARE
5.1 CATEVA DEFINITII IMPORTANTE
5.2 TIMP DE INDISPONIBILITATE SI TIMP DE REPARATIE
5.3 CONCEPTUL DE MENTENANTA
5.4 CALCULUL MENTENANTEI
5.4.1 CALCULUL LUI MTTRS
5.4.2 CALCULUL LUI MTTPMS
5.4.3 SUPORT LOGISTIC DESCENTRALIZAT
6 ASIGURAREA CALITATII SOFTWARE-ULUI
6.1 CRESTEREA FIABILITATII SOFTWARE-ULUI
6.2 CATEVA MODELE DE CRESTEREA FIABILITATII SOFTWARE-ULUI
6.2.1 MODELUL JM
6.2.2 MODELUL LITTLEWOOD
6.2.3 MODELUL LITTLEWOOD SI VERRALL (1973)
6.3 BAZELE ASIGURARII CALITATII SOFTWARE-ULUI
7 ACTIVITATI ACFP (ASIGURAREA CALITATII SI FIABILITATII PRODUSELOR) IN FAZA DE FABRICATIE A SISTEMELOR ELECTRONICE
7.1 STRATEGII DE TEST SI ASPECTE ECONOMICE
7.2 TESTAREA SI PREIMBATRANIREA COMPONENTELOR ELECTRONICE
7.2.1 TESTE DE "SCREENING" (PREIMBATRANIRE)
7.3 TESTAREA SI IMBATRANIREA CARTELELOR ECHIPATE
8 ANEXE

Extras din licența:

0. 2. 1. Fiabilitatea este o masura care se refera la capacitatea unei anumite unitati considerate (sistem, subsistem, aparat, componenta) de a functiona corect. Ea se noteaza cu R (Reliability) si se exprima prin probabilitatea ca functia ceruta sa fie indeplinita in timpul unei anumite perioade de timp T - fara ca unitatea respectiva sa se defecteze.

Dupa cum rezulta din definitie, fiabilitatea ne da probabilitatea ca in timpul perioadei T sa nu se produca nici o defectare care sa influenteze indeplinirea functiei cerute - la nivelul unitatii considerate.

Aceasta insa nu inseamna ca partile redundante n-au voie sa se defecteze.

Dimpotriva, ele pot sa se defecteze si - fara intreruperi la nivelul unitatii considerate, dar cu ajutorul mentenantei - pot sa fie mentinute in functiune.

De fiecare data cand se da o indicatie numerica a fiabilitatii - de exemplu R = 0, 98 - trebuie definite simultan atat misiunea incredintata, cat si durata misiunii T.

De asemenea, va trebui sa se indice daca unitatea respectiva - la inceputul misiunii considerate - este noua, nefolosita, sau daca a fost reparata, caci definitiile, la care ne vom referi mai tarziu, nu fac nici o distinctie intre nou si folosit. La caderea in pana, cele mai multe sisteme electronice sunt reparate si ele continua - dupa aceea - sa functioneze. A repara inseamna a inlocui componentele defecte, cazute in pana.

Cu toate acestea, sistemul nu este ca nou, caci componentele care nu s-au defectat, n-au fost inlocuite.

Si nici nu putem spune ca e la fel de rau ca si cel vechi. Aceasta distinctie intre ca nou si ca si cel vechi este importanta, caci functia ratei de defectare a componentelor NU este - in general -constanta in timp!

Daca ratele de defectare ale uneia sau mai multor componente ale sistemului nu sunt constante.

Intensitatea defectelor sistemului poate deveni constanta, poate sa descreasca sau sa inregistreze bruste valori importante (peaks), aceasta depinzand de functia ratei de defectare a componentelor.

Altfel spus, presupunerea - facuta in mod traditional - a unei rate de defectare constante este gresita in cele mai multe cazuri. Cum este de asteptat o intensitate variabila a ratei de defectare si deoarece sistemele sunt reparate - in timp -, metodele traditionale de analiza (Weibull, de exemplu), nu sunt indicate. Mai mult, numarul de defecte raportat la populatia de componente cu riscuri este foarte redus. Aceasta explica de ce analiza traditionala intampina anumite dificultati si pentru pe este nevoie sa dezvoltam metode bazate pe conceptul de procese stocastice, transformand astfel statisticile complicate in metode practice ingineresti. Deosebit de indicat in acest scop este procesul de reinnoire: Si cum sistemele electronice sufera adesea de boala defectelor timpurii, o aproximare practica bazata pe distributia bimodala exponentiala este adesea metoda cea mai indicata pentru a aborda problema. In aplicatiile practice ne intereseaza adesea evolutia in timp ...

Bibliografie:

W. S. GOSSET - "THE PROBABLE ERROR OF A MEAN - BIOMETRIKA 6", 1908

AMMAN AND KNIGHT - "LIMITARI DE CARE TREBUIE SA TINEM SEAMA", 1987

JELINSKI SI MORANDA L. - "MODELUL LITTLEWOOD",1981

Descarcă licența

Pentru a descărca acest document,
trebuie să te autentifici in contul tău.

Structură de fișiere:
  • Studiu de fiabilitate asupra sistemelor electronice
    • Bibliografie.doc
    • Cuprins.doc
    • Diploma.doc
Alte informații:
Tipuri fișiere:
doc
Diacritice:
Da
Nota:
7/10 (2 voturi)
Anul redactarii:
2008
Nr fișiere:
3 fisiere
Pagini (total):
147 pagini
Imagini extrase:
99 imagini
Nr cuvinte:
47 058 cuvinte
Nr caractere:
248 730 caractere
Marime:
1.35MB (arhivat)
Publicat de:
Anonymous A.
Nivel studiu:
Facultate
Tip document:
Licența
Domeniu:
Alte domenii
Predat:
la facultate din Bucuresti
Materie:
Alte domenii
Sus!